高溫試驗(yàn)

項(xiàng)目介紹

高溫對(duì)產(chǎn)品有很多影響，如老化、氧化、化學(xué)變化、熱擴(kuò)散、電遷移、金屬遷移、熔化、汽化變形等，通常周圍環(huán)境每上升10℃，產(chǎn)品壽命就會(huì)減少到四分之一；當(dāng)周圍環(huán)境溫度上升20℃，產(chǎn)品壽命就會(huì)減少一半，產(chǎn)品壽命遵循“10℃規(guī)則”，因而高溫試驗(yàn)作為最常用的試驗(yàn)，用于元器件和整機(jī)的篩選、老化試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、加速壽命試驗(yàn)，同時(shí)在失效分析的驗(yàn)證上起重要作用。

檢測(cè)目的:用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。

參考標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.2

IEC 60068-2-2

EIA-364-17

GJB150.3

MIL-STD-202

技術(shù)指標(biāo)包括：溫度、時(shí)間、上升速率。

注意產(chǎn)品和元器件的最大耐受溫度極限。

樣品放入試驗(yàn)箱內(nèi)為保持樣品受熱均勻，樣品與樣品及樣品與箱壁的距離最少為5cm。

試驗(yàn)結(jié)束后需將樣品在箱內(nèi)恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài)，或?qū)悠贩胖迷诔爻癍h(huán)境下進(jìn)行恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài)。

測(cè)試要求

測(cè)試范圍：＜200℃

測(cè)試參數(shù)：小于1m3 16m3

低溫試驗(yàn)

項(xiàng)目介紹

低溫對(duì)產(chǎn)品有很多影響，如脆化、結(jié)冰、粘度增大、固化、機(jī)械強(qiáng)度的降低及物理性收縮等， 低溫試驗(yàn)用于考核產(chǎn)品在低溫環(huán)境下貯存和使用的適應(yīng)性，常用于產(chǎn)品在開發(fā)階段的型式試驗(yàn)、元器件的篩選試驗(yàn)等。

檢測(cè)目的:用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。

參考標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.1

GB/T 2424. 1-2005

IEC 60068-2-1

EIA-364-59

技術(shù)指標(biāo)包括：溫度、時(shí)間、下降速率。

注意產(chǎn)品從低溫箱取出時(shí)由于溫度突變會(huì)產(chǎn)生冷凝水。（對(duì)溫度循環(huán)、溫度沖擊、濕熱試驗(yàn)均適用）

樣品放入試驗(yàn)箱內(nèi)為保持樣品受冷均勻，樣品與樣品及樣品與箱壁的距離最少為5cm。

試驗(yàn)結(jié)束后需將樣品在箱內(nèi)恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài)，或?qū)悠贩胖迷诔爻癍h(huán)境下進(jìn)行恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài)，在特定環(huán)境下會(huì)要求對(duì)樣品吹稍熱的風(fēng)進(jìn)行解凍再進(jìn)行升溫至穩(wěn)定。

測(cè)試要求

測(cè)試范圍：0℃~ -70℃

測(cè)試參數(shù)：小于1m3

1m3

18.9m3

測(cè)試范圍：-40℃~ -70℃

測(cè)試參數(shù)：無要求

交變濕熱試驗(yàn)

項(xiàng)目介紹

交變濕熱是模擬熱帶雨林的環(huán)境，確定產(chǎn)品和材料在溫度變化，產(chǎn)品表面凝露時(shí)的使用和貯存的適應(yīng)性。常用于壽命試驗(yàn)、評(píng)價(jià)試驗(yàn)和綜合試驗(yàn)。

技術(shù)指標(biāo)包括：溫度、相對(duì)濕度、轉(zhuǎn)換時(shí)間、交變次數(shù)。

試驗(yàn)結(jié)束后應(yīng)對(duì)樣品有1～2小時(shí)的恢復(fù)期。

參考標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.4

IEC 60068-2-30

測(cè)試要求

測(cè)試范圍：溫度：-70℃~180℃

濕度：5%~98%

測(cè)試參數(shù)：小于1m3

1m3

18.9m3

濕度＜20%（只能用C340的箱子，低溫度≥-40℃）

恒溫恒濕試驗(yàn)

項(xiàng)目介紹

產(chǎn)品失效原因濕度的影響占40%以上，因此濕度試驗(yàn)在環(huán)境試驗(yàn)中是必不可少的。常用于壽命試驗(yàn)、評(píng)價(jià)試驗(yàn)和綜合試驗(yàn)，同時(shí)在失效分析上起重要作用。尤其對(duì)含有樹脂材料的產(chǎn)品在產(chǎn)品研發(fā)和質(zhì)量評(píng)估時(shí)該試驗(yàn)是必須的。常做的雙85指的就是溫度85℃，濕度85%RH。

技術(shù)指標(biāo)包括：溫度、相對(duì)濕度、試驗(yàn)時(shí)間。

注意試驗(yàn)結(jié)束后應(yīng)對(duì)樣品有1～2小時(shí)的恢復(fù)期。

參考標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.3

GB/T 2423.50

IEC 60068-2-78

MIL-STD-202

測(cè)試要求

溫度/濕度環(huán)境、溫度駐留時(shí)間

測(cè)試范圍：溫度：-70℃~180℃

濕度：5%~98%

測(cè)試參數(shù)：小于1m3

1m3

18.9m3

濕度＜20%

冷熱沖擊試驗(yàn)

項(xiàng)目介紹

溫度沖擊的試驗(yàn)?zāi)康氖菫榱嗽谳^短的時(shí)間內(nèi)確認(rèn)產(chǎn)品特性的變化，以及由于構(gòu)成元器件的異種材料熱膨脹系數(shù)不同而造成的故障問題。這些變化可以通過將元器件迅速交替地暴露于超高溫和超低溫的試驗(yàn)環(huán)境中觀察到。冷熱沖擊不同于環(huán)境模擬試驗(yàn)，它是通過冷熱溫度沖擊發(fā)現(xiàn)常溫狀態(tài)下難以發(fā)現(xiàn)的潛在故障。

技術(shù)指標(biāo)包括：試驗(yàn)溫度范圍、暴露時(shí)間、循環(huán)次數(shù)、轉(zhuǎn)換時(shí)間、試驗(yàn)樣品重量等。

冷熱沖擊設(shè)備主要有三種：兩箱法、三箱法和液槽式

參考標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.22

IEC60068-2-14

EIA-364-32

MIL-STD-202

測(cè)試要求

測(cè)試范圍：溫度: -75~220℃

轉(zhuǎn)換時(shí)間，＜10秒

測(cè)試參數(shù)：770*650*610mm

快速溫度變化試驗(yàn)

項(xiàng)目介紹

快速溫變是規(guī)定了溫度變化速率的溫度變化，常常模擬晝夜溫差大的地區(qū)環(huán)境，也可用于壽命試驗(yàn)，用以考核元器件或產(chǎn)品的外觀、機(jī)械性能及電氣性能。

技術(shù)指標(biāo)包括：低溫及高溫的溫度值、溫度變化速率及循環(huán)數(shù)。

檢測(cè)目的：確定元件設(shè)備及其他產(chǎn)品耐環(huán)境溫度變化的能力和在環(huán)境溫度變化期間的工作能力。

參考標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.22

IEC60068-2-14

測(cè)試要求

測(cè)試范圍：溫度:-70℃~150℃

測(cè)試參數(shù)：溫度變化速率≤10℃/分鐘

溫度變化速率10~25℃/分鐘

低氣壓試驗(yàn)

項(xiàng)目介紹

低氣壓試驗(yàn)箱主要用于航空、航天、信息、電子等領(lǐng)域，確定儀器儀表、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備在低氣壓、高溫、低溫單項(xiàng)或同時(shí)作用下的環(huán)境適應(yīng)性與可靠性試驗(yàn)。

檢測(cè)目的：目的主要用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在在貯存、運(yùn)輸和使用中對(duì)低氣壓環(huán)境的適應(yīng)性。

參考標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.21

IEC 60068-2-13

測(cè)試要求

測(cè)試范圍：壓力:常壓~10KPa

溫度: 常溫~200℃

測(cè)試參數(shù)：1立方

臭氧測(cè)試

項(xiàng)目介紹

臭氧測(cè)試適用于適用于測(cè)試橡膠制品非金屬材料、有機(jī)材料（如：涂料、油漆、橡膠、塑膠、及其制品）的耐臭氧老化性能和老化龜裂試驗(yàn)。

檢測(cè)目的：模擬和強(qiáng)化大氣中的臭氧條件，研究臭氧對(duì)橡膠的作用規(guī)律，快速鑒定和評(píng)價(jià)橡膠抗臭氧老化性能與抗臭氧劑防護(hù)效能的方法，進(jìn)而采取有效的防老化措施，以提高橡膠制品的使用壽命。

參考標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 7762

ISO 1431-1

測(cè)試要求

測(cè)試范圍：濃度: 0~500pphm

溫度: 室溫~50℃

測(cè)試參數(shù)：550*500*700mm

高壓蒸煮（HAST）

項(xiàng)目介紹

高壓蒸煮試驗(yàn)采用高壓高濕條件，考核塑料封裝的半導(dǎo)體集成電路等電子器件的綜合影響，是用高加速的試驗(yàn)方式評(píng)價(jià)電子產(chǎn)品耐濕熱的能力，常用于產(chǎn)品開發(fā)、質(zhì)量評(píng)估、失效驗(yàn)證。

技術(shù)指標(biāo)包括：大氣壓力、相對(duì)濕度（飽和或非飽和）、溫度、試驗(yàn)時(shí)間。

參考標(biāo)準(zhǔn)

JESD22-A102-C

JESD22-A110B

JESD22-A118

測(cè)試要求

測(cè)試范圍：溫度：105~142.9℃

濕度：75%~100%

壓力：0.02~0.186Mpa

測(cè)試參數(shù)：400*280*270mm

防塵防水試驗(yàn)/IP等級(jí)

項(xiàng)目介紹

防塵防水試驗(yàn)/IP等級(jí)主要針對(duì)在戶外或使用環(huán)境惡劣的電子產(chǎn)品及設(shè)備，表示法為IPXX，第一位特征數(shù)字所表示的防止接近危險(xiǎn)部件和防止固體異物進(jìn)入的防護(hù)等級(jí)，第二位特征數(shù)字所表示的防止水進(jìn)入的防護(hù)等級(jí)。

檢測(cè)目的：防止人觸及或接近外殼內(nèi)部的帶電部件和觸及運(yùn)動(dòng)部件，防止固體異物進(jìn)入外殼內(nèi)部，防止水進(jìn)入外殼內(nèi)部對(duì)設(shè)備造成影響。

參考標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60529

GB/T 4208

IEC 60598

GB/T 2423.37

IEC 60068-2-68

技術(shù)指標(biāo)包括：溫度、時(shí)間、上升速率。

注意產(chǎn)品和元器件的最大耐受溫度極限。

樣品放入試驗(yàn)箱內(nèi)為保持樣品受熱均勻，樣品與樣品及樣品與箱壁的距離最少為5cm。

試驗(yàn)結(jié)束后需將樣品在箱內(nèi)恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài)，或?qū)悠贩胖迷诔爻癍h(huán)境下進(jìn)行恢復(fù)至穩(wěn)定狀態(tài)。

測(cè)試要求

測(cè)試范圍：IP XX

測(cè)試參數(shù)：防塵: 1~4X

防塵: 5~6X

防水: X1~7

UV紫外光老化試驗(yàn)

項(xiàng)目介紹

項(xiàng)目介紹：用于模擬對(duì)陽光、潮濕和溫度對(duì)材料的破壞作用;材料老化包括褪色、失光、強(qiáng)度降低、開裂、剝落、粉化和氧化等。

紫外與氙燈的區(qū)別：主要是使用的光源不一樣，紫外燈的波長是指定的UVA/UVB 340/400nm，氙燈的波長是290～800nm。

檢測(cè)目的：光老化試驗(yàn)就是評(píng)定戶外無遮蔽是用和儲(chǔ)存的設(shè)備經(jīng)受太陽輻射和光學(xué)效應(yīng)的能力。試驗(yàn)參數(shù)：溫度、濕度、燈型波長、輻射強(qiáng)度、光照黑暗周期、持續(xù)時(shí)間。

參考標(biāo)準(zhǔn)

ISO 4892.3

GB/T 16422.3

ASTM G 154

ASTM D 4674

測(cè)試要求

測(cè)試范圍：UVA340/UVB313/ UVA351

測(cè)試參數(shù)：單個(gè)樣品尺寸為6*9cm

氙燈老化/太陽輻射

項(xiàng)目介紹

用模擬全陽光光譜的氙弧燈來再現(xiàn)不同環(huán)境下存在的破壞性光波，可以為科研、產(chǎn)品開發(fā)和質(zhì)量控制提供相應(yīng)的環(huán)境模擬和加速試驗(yàn)

檢測(cè)目的：氙燈試驗(yàn)可用于新材料的選擇、改進(jìn)現(xiàn)有材料或評(píng)估材料組成變化后耐用性的變化試驗(yàn)，可以很好的模擬在不同環(huán)境條件下，材料暴露在陽光下所產(chǎn)生的變化。

參考標(biāo)準(zhǔn)

ISO 4892.2

GB/T 16422.2

ASTM G 155

ASTM D 4459

測(cè)試要求

測(cè)試范圍：黑板溫度范圍為25℃~90℃

測(cè)試參數(shù)：XE-3-HSC

氣體腐蝕試驗(yàn)

項(xiàng)目介紹

氣體腐蝕主要應(yīng)用于接觸點(diǎn)和連接件，試驗(yàn)后的評(píng)定標(biāo)準(zhǔn)是接觸電阻變化，其次是外觀變化。主要的腐蝕氣體為二氧化硫、硫化氫、二氧化氮、氯氣，可依據(jù)使用環(huán)境選擇一種或多種氣體進(jìn)行試驗(yàn)。

技術(shù)指標(biāo)包括：氣體濃度、相對(duì)濕度、溫度、流速、試驗(yàn)時(shí)間。

檢測(cè)目的：氣體腐蝕實(shí)驗(yàn)確用于定產(chǎn)品在大氣環(huán)境下工作、儲(chǔ)存的適應(yīng)性，特別是接觸件與連接件。影響腐蝕的主要有溫濕度、大氣腐蝕性成分等。實(shí)驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于腐蝕性氣體的種類和暴露持續(xù)時(shí)間。

參考標(biāo)準(zhǔn)

EIA-364-65

GB/T 2423.51

IEC 60068-2-60

DIN 50018

GB/T 2423.33

測(cè)試要求

測(cè)試范圍：SO2/ H2S/ NO2/Cl2 濃度：0.01~100ppm；溫度：0℃~90℃ ；濕度：10%~98%

測(cè)試參數(shù)：870*735*520mm

鹽霧試驗(yàn)

項(xiàng)目介紹

鹽霧試驗(yàn)?zāi)M的是海洋或潮濕地區(qū)氣候的環(huán)境，用于考核產(chǎn)品、材料及其防護(hù)層抗鹽霧腐蝕的能力。有鹽霧試驗(yàn)和交變鹽霧兩種試驗(yàn)。常用于在特殊條件下的質(zhì)量評(píng)估、失效驗(yàn)證。

種類：中性鹽霧試驗(yàn)（NSS），乙酸鹽霧試驗(yàn)（AASS），銅加速乙酸鹽霧試驗(yàn)（CASS）

鹽霧試驗(yàn)的技術(shù)指標(biāo)包括：鹽溶液濃度、相對(duì)濕度、溫度、鹽霧時(shí)間、貯存時(shí)間、試驗(yàn)周期、鹽霧沉降量、PH值。

參考標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.17

IEC 60068-2-11

GB/T 10125

ASTM B 117

GB/T 2423.18

IEC 60068-2-52

ASTM B 368

ISO 9227

MIL-STD-202

EIA-364-26

ASTM G 85

測(cè)試要求

測(cè)試范圍：NSS,AASS,CASS

測(cè)試參數(shù)：900*600mm

測(cè)試參數(shù)：1 m3

測(cè)試范圍：NSS

測(cè)試參數(shù)：2400*1500mm

標(biāo)簽：測(cè)試可靠性零部件